X33 系列散料檢測系統(tǒng)將衛(wèi)生設計與下一代 X 射線技術結合，向散裝食品制造商提供一流的產品檢測解決方案
英國羅伊斯頓 – 2013 年 10 月 24 日 – 梅特勒-托利多 X 射線推出了 X33 系列散料檢測系統(tǒng)，可對干燥和粘狀散裝食品進行最佳污染檢測，檢查產品的污染物，如玻璃、金屬碎片、鈣化骨、礦物石和高密度塑料等。從事散裝主食，如麥片、葡萄干、橄欖、干果、甚至蝦或肉末等工作的食品制造商很早就不得不采用繁瑣費時的沖洗程序，以保護其生產線免受這些產品造成的潮濕和灰塵。X33 系列散料檢測系統(tǒng)專門開發(fā)來處理原始和未成形食品原料，結合衛(wèi)生設計和增強型輸送機制，以便于操作和沖洗。
X33 系列散料檢測系統(tǒng)還具有梅特勒-托利多 X 射線于 2012 年開發(fā)的革命性節(jié)能 X 射線發(fā)電機。此技術可提供與標準系統(tǒng)一樣的出色污染檢測水平，但卻只使用五分之一的電力，從而降低能源消耗并降低總擁有成本 (TCO)。它還通過可根據應用定制的機器剔除系統(tǒng)最大限度地減少產品浪費，使用四軌道翻板或吹氣式剔除系統(tǒng)將污染產品轉移到可上鎖收集箱。這樣，僅少量產品被剔除。
同時，超大視頻窗口有利于直接校準剔除系統(tǒng)，并允許操作人員快速查看產品是否順利通過。機器包括可以抬起的外殼，以方便接觸所有組件、兩個進料選件、一個傳送帶和一個可移動料斗，從而實現深入清潔并遵守 IP69K 沖洗規(guī)定。料斗采用獨特的分體式設計，使其重量更輕更容易取出，并使其更容易接觸并清洗。
“衛(wèi)生是散料檢測系統(tǒng)食品制造商的一個關鍵問題，因為他們尋求向消費者提供高品質即食產品，”梅特勒-托利多 X 射線產品工程主管 Anthony Darragh 解釋說。“利用新的 X33 系列散料檢測系統(tǒng)設計，我們側重于確保粘狀或干燥顆粒劑的任何殘留物或灰塵可輕松去除，從而保障企業(yè)散裝產品的質量和安全。”
X33 系列散料檢測系統(tǒng)衛(wèi)生設計和沖洗能力可根據一系列重要的食品安全標準，如歐洲衛(wèi)生工程設計集團 (EHEDG) 的指導方針，美國 3-A 衛(wèi)生標準和 NSF 食品安全標準等，在產品檢驗過程中防止任何污染。此外，像 X33 系列的所有機器，散料檢測系統(tǒng)配備了標準的 20瓦 X 射線發(fā)電機，而不是傳統(tǒng) X射線系統(tǒng)使用的 100 瓦發(fā)電機。這意味著，在典型的操作條件下，機器消耗低于 20％ 的能量，有助于最大限度地降低生產成本。
關于梅特勒-托利多 X 射線檢測部門
梅特勒-托利多是食品和制藥行業(yè)金屬檢測與 X 射線檢測解決方案的全球領先供應商。金屬檢測機、X 射線檢測系統(tǒng)、自動檢重秤和視覺檢測解決方案共同構成了梅特勒-托利多產品檢測部門。
